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担当:平川
Mail:info@infowave.co.jp

画像処理技術の紹介


当社では、エリア/ラインセンサー(カメラ)を使用した画像処理装置の
開発を行っております。
ここでは当社の実績の一部を紹介します。
検査装置だけではなく開発・調整治工具など、お客さまのご要望に
合わせた、ご用件に合わせた装置の設計開発を行っております。
まずはお問い合わせください。

※本ページに表示される画像はイメージ画像です。

シリコン母材外観検査

インゴットより切り出したシリコンなどの母材を検査します

実績
外形サイズ検査
欠け、割れ検査
表面剥離検査

応用例
太陽電池パネル外観検査

処理イメージ
ラインセンサーやエリアセンサーを使用して、搬送中の検体を撮影、判定します。
サイズ検出
欠け検出
剥離検出

・エッジや4角を検出
・サイズや傾きを判定
・上画像はコーナーのR検出結果
・エッジの欠けを検出
・エッジ周辺に発生した剥離を検出

円筒表面検査

ラインセンサーを用いて、円筒形の検体表面を検査します。


メリット
カメラと検体の距離を保って画像を作成できるので全体を均一な精度で判定できます。

応用例
傷検査
塗装ムラ検査
印刷ずれ検査

処理イメージ
ラインセンサーを使用して、検体を回転させながら1枚の画像を作成、判定します。

円筒管内検査

アルミ管など内部を撮影し、計測や表面検査が可能です。


応用例
ねじ/溝切り後の深さ確認治具
仕上げ後のムラ検査

半透明素材 表面検査

ウレタンゴムなど半透明素材の検査が可能で。

検出例
表面キズ
練りこみ異物
※表面のゴミを検出せず、キズと練りこみ異物のみ検出した実績があります。

位置判定

マーキングの位置ずれやパッケージの方向(90度単位)の判定が可能です。

位置計測

中心位置や間隔、基準位置からのずれを計測できます。

傾き ICピッチ・長さ 重心